Воздействие ионных пучков и термообработок на структуру и электрофизические свойства индивидуальных многостенных углеродных нанотрубок и их ансамблей

Авторы

  • Егор Владимирович Князев Омский научный центр СО РАН, г. Омск
  • Константин Евгеньевич Ивлев Омский научный центр СО РАН, г. Омск
  • Василий Евгеньевич Кан Омский научный центр СО РАН, г. Омск

DOI:

https://doi.org/10.25206/1813-8225-2018-159-80-83

Ключевые слова:

функционализация углеродных нанотрубок, углеродные нанотрубки, ионное облучение, температурные отжиги, просвечивающая микроскопия, комбинационное рассеяние света, теория функционала плотности

Аннотация

Исследовано влияние облучения ионами аргона и термических обработок на формирование дефектной структуры и электрофизические свойства многослойных углеродных нанотрубках (МУ НТ). Методами просвечивающей элек- тронной микроскопии, комбинационного рассеяния света и электрофизическими измерениями установлено формирование стабильных протяженных дефектов, определяющих резкое снижение проводимости МУ НТ после об- лучения и термических отжигов. Показана возможность применения комбинации методов ионного облучения и температурных отжигов для изменения проводимости нанотрубок.

Скачивания

Данные скачивания пока недоступны.

Биографии авторов

Егор Владимирович Князев, Омский научный центр СО РАН, г. Омск

младший научный сотрудник лаборатории физики наноматериалов и гетероструктур.

Константин Евгеньевич Ивлев, Омский научный центр СО РАН, г. Омск

младший научный сотрудник лаборатории физики наноматериалов и гетероструктур.

Василий Евгеньевич Кан, Омский научный центр СО РАН, г. Омск

кандидат физико-математических наук, старший научный сотрудник лаборатории физики наноматериалов и гетероструктур.

Загрузки


Просмотров аннотации: 5

Опубликован

04.07.2018

Как цитировать

[1]
Князев, Е.В., Ивлев, К.Е. и Кан, В.Е. 2018. Воздействие ионных пучков и термообработок на структуру и электрофизические свойства индивидуальных многостенных углеродных нанотрубок и их ансамблей. ОМСКИЙ НАУЧНЫЙ ВЕСТНИК. 3(159) (июл. 2018), 80–83. DOI:https://doi.org/10.25206/1813-8225-2018-159-80-83.

Выпуск

Раздел

Приборостроение, метрология и информационно-измерительные приборы и системы