Изменение кристаллической структуры МУНТ под воздействием мощного импульсного ионного С:Н пучка

Авторы

  • Валерий Викторович Болотов Омский научный центр СО РАН, г. Омск
  • Василий Евгеньевич Кан Омский научный центр СО РАН, г. Омск
  • Егор Владимирович Князев Омский научный центр СО РАН, г. Омск

DOI:

https://doi.org/10.25206/1813-8225-2020-173-74-78

Ключевые слова:

просвечивающая электронная микроскопия, спектроскопия комбинационного рассеяния света, импульсное ионное облучение, мощные ионные пучки, многостенные углеродные нанотрубки

Аннотация

В работе методами спектроскопии комбинационного рассеяния света и просвечивающей электронной микроскопии
исследована структура многостенных углеродных нанотрубок, подверженных воздействию импульсного мощного
ионного пучка. Показано, что облучение ионным пучком генерирует существенные дефекты в структуре нанотрубок.
С увеличением числа импульсов наблюдаются процессы, связанные с отжигом дефектов внутренней структуры образцов. Данные электронной микроскопии позволяют выделить два типа дефектов, приводящих к уменьшению межслоевого расстояния стенки углеродной нанотрубки.

Скачивания

Данные скачивания пока недоступны.

Биографии авторов

Валерий Викторович Болотов, Омский научный центр СО РАН, г. Омск

доктор физико- математических наук, профессор (Россия), главный научный сотрудник лаборатории физики наноматериалов и гетероструктур.

Василий Евгеньевич Кан, Омский научный центр СО РАН, г. Омск

кандидат физико-математических наук, старший научный сотрудник лаборатории физики наноматериалов и гетероструктур.

Егор Владимирович Князев, Омский научный центр СО РАН, г. Омск

младший научный сотрудник лаборатории физики наноматериалов и гетероструктур.

Загрузки


Просмотров аннотации: 9

Опубликован

30.11.2020

Как цитировать

[1]
Болотов, В.В., Кан, В.Е. и Князев, Е.В. 2020. Изменение кристаллической структуры МУНТ под воздействием мощного импульсного ионного С:Н пучка. ОМСКИЙ НАУЧНЫЙ ВЕСТНИК. 5(173) (ноя. 2020), 74–78. DOI:https://doi.org/10.25206/1813-8225-2020-173-74-78.

Выпуск

Раздел

Приборостроение, метрология и информационно-измерительные приборы и системы