Фотоэлемент, имеющий два контакта Ti-p-Si c барьером Шоттки и омический силицидный контакт NiSi-p-Si

Авторы

  • Рудиарий Борисович Бурлаков Омский государственный университет им. Ф. М. Достоевского, г. Омск

DOI:

https://doi.org/10.25206/1813-8225-2020-169-62-66

Ключевые слова:

способ изготовления фотоэлемента, кремний р-типа, контакты с барьером Шоттки Ti-р-Si, омический контакт NiSi-p-Si

Аннотация

Рассмотрены способ изготовления и результаты исследования фотоэлектрических характеристик двухспектрального фотоэлемента, имеющего два контакта с барьером Шоттки Ti-p-Si на одной стороне кремниевой пластины и омический силицидный контакт NiSi-p-Si, расположенный на противоположной стороне пластины. Показано, что исследованный фотоэлемент может быть использован для преобразования энергии излучения в электрическую энергию при комнатной температуре в двух диапазонах: либо в ближней инфракрасной области спектра (0,9–1,4) мкм, либо в области (0,5–1,4) мкм. Это свойство разработанного фотоэлемента позволит расширить его область применения. Фотоэлемент обладает простой структурой и технологией со временем его изготовления в интервале (2,5–3) часа.

Скачивания

Данные скачивания пока недоступны.

Биография автора

Рудиарий Борисович Бурлаков, Омский государственный университет им. Ф. М. Достоевского, г. Омск

кандидат физико- математических наук, доцент (Россия), доцент кафедры «Прикладная и медицинская физика».

Загрузки


Просмотров аннотации: 3

Опубликован

10.03.2020

Как цитировать

[1]
Бурлаков, Р.Б. 2020. Фотоэлемент, имеющий два контакта Ti-p-Si c барьером Шоттки и омический силицидный контакт NiSi-p-Si. ОМСКИЙ НАУЧНЫЙ ВЕСТНИК. 1(169) (мар. 2020), 62–66. DOI:https://doi.org/10.25206/1813-8225-2020-169-62-66.

Выпуск

Раздел

Приборостроение, метрология и информационно-измерительные приборы и системы