Контроль и диагностика неисправностей программно-аппаратного комплекса
DOI:
https://doi.org/10.25206/1813-8225-2018-158-128-133Ключевые слова:
контроль и диагностика, имитация неисправностей, автоматизация тестирования, программно-аппаратный комплекс, аппаратный отказАннотация
В работе предлагается комплекс показателей контроля основных неисправностей микроконтроллерной системы. Рассмотрены вопросы тестовой имитации неисправностей для автоматизации тестирования устройств на этапе разработки. Предложен подход к выявлению неисправностей программно-аппаратного комплекса с использованием программно-алгоритмических модулей контроля и диагностики. Экспериментально подтверждена эффективность данного подхода для контроля и диагностики сбоев и отказов в аппаратных компонентах при имитации неисправностей.
Скачивания
Опубликован
Как цитировать
Выпуск
Раздел
Лицензия
Неисключительные права на статью передаются журналу в полном соответствии с Лицензией Creative Commons BY-NC-SA 4.0 «Attribution-NonCommercial-ShareAlike» («Атрибуция-Некоммерчески-СохранениеУсловий») 4.0 Всемирная (CC BY-NC-SA 4.0)