Стенды для измерения потерь и критических параметров сверхпроводящих образцов во внешних магнитных полях

Авторы

  • Константин Константинович Ким Петербургский государственный университет путей сообщения Императора Александра I, г. Санкт-Петербург
  • Антон Андреевич Ткачук Петербургский государственный университет путей сообщения Императора Александра I, г. Санкт-Петербург
  • Андрей Альбертович Кузнецов Омский государственный университет путей сообщения, г. Омск

DOI:

https://doi.org/10.25206/1813-8225-2020-171-70-73

Ключевые слова:

сверхпроводник, критические параметры сверхпроводника, магнитное поле, измерение потерь мощности, калориметрический метод определения мощности

Аннотация

При разработке всякой сверхпроводящей магнитной системы важную роль играет информация о величине потерь в сверхпроводнике и его критических параметров (критических плотности тока и индукции) в реальных условиях эксплуатации (при воздействии на сверхпроводник переменных и постоянных магнитных полей). Из-за сложности физических процессов, протекающих в сверхпроводнике и конструкции современных сверхпроводящих магнитных систем, эта проблема трудноразрешима. В связи с этим были разработаны два экспериментальных стенда, позволяющих исследовать параметры сверх- проводника при влиянии внешних факторов.

Скачивания

Данные скачивания пока недоступны.

Биографии авторов

Константин Константинович Ким, Петербургский государственный университет путей сообщения Императора Александра I, г. Санкт-Петербург

доктор технических наук, профессор (Россия), заведующий кафедрой «Электротехника и теплоэнергетика» Петербургского государственного университета путей сообщения Императора Александра I (ПГУПС), г. Санкт-Петербург.

Антон Андреевич Ткачук, Петербургский государственный университет путей сообщения Императора Александра I, г. Санкт-Петербург

кандидат технических наук, доцент кафедры «Электротехника и тепло- энергетика» ПГУПС, г. Санкт-Петербург.

Андрей Альбертович Кузнецов, Омский государственный университет путей сообщения, г. Омск

доктор технических наук, профессор (Россия), заведующий кафедрой «Теоретическая электротехника» Омского государственного университета путей сообщения, г. Омск.

Загрузки


Просмотров аннотации: 18

Опубликован

30.06.2020

Как цитировать

[1]
Ким, К.К., Ткачук, А.А. и Кузнецов, А.А. 2020. Стенды для измерения потерь и критических параметров сверхпроводящих образцов во внешних магнитных полях. ОМСКИЙ НАУЧНЫЙ ВЕСТНИК. 3(171) (июн. 2020), 70–73. DOI:https://doi.org/10.25206/1813-8225-2020-171-70-73.

Выпуск

№ 3(171) (2020)

Раздел

Приборостроение, метрология и информационно-измерительные приборы и системы

Лицензия

Неисключительные права на статью передаются журналу в полном соответствии с Лицензией Creative Commons BY-NC-SA 4.0 «Attribution-NonCommercial-ShareAlike» («Атрибуция-Некоммерчески-СохранениеУсловий») 4.0 Всемирная (CC BY-NC-SA 4.0)

by-nc-sa

Похожие статьи

Вы также можете начать расширеннвй поиск похожих статей для этой статьи.