Применение методов сканирующей зондовой микроскопии для определения электрофизических параметров индивидуальных многостенных углеродных нанотрубок

Авторы

  • Денис Витальевич Соколов Омский научный центр СО РАН, г. Омск
  • Надим Анварович Давлеткильдеев Омский научный центр СО РАН, г. Омск
  • Иван Андреевич Лобов Омский научный центр СО РАН, г. Омск

DOI:

https://doi.org/10.25206/1813-8225-2018-159-114-117

Ключевые слова:

углеродные нанотрубки, проводящая атомно-силовая микроскопия, электростатическая силовая микроскопия, электрофизические параметры, работа выхода, проводимость

Аннотация

На основе совместного использования методов проводящей атомно-силовой микроскопии (П-АСМ) и электростатической силовой микроскопии (ЭСМ) определены электрофизические параметры индивидуальных многостенных углеродных нанотрубок (УНТ), нелегированных и легированных примесью азота и бора. С помощью П-АСМ определялось продольное электрическое сопротивление УНТ. Из анализа данных ЭСМ определялись внешний диаметр, длина УНТ и работа выхода электронов из УНТ. На основе результатов, полученных данными методами, рассчитывались удельная проводимость УНТ, концентрация и подвижность свободных носителей заряда в них.

Скачивания

Данные скачивания пока недоступны.

Биографии авторов

Денис Витальевич Соколов, Омский научный центр СО РАН, г. Омск

младший научный сотрудник лаборатории физики наноматериалов и гетероструктур.

Надим Анварович Давлеткильдеев, Омский научный центр СО РАН, г. Омск

кандидат физико-математических наук, доцент (Россия), старший научный сотрудник лаборатории физики наноматериалов и гетероструктур.

Иван Андреевич Лобов, Омский научный центр СО РАН, г. Омск

инженер-технолог лаборатории физики наноматериалов и гетероструктур.

Загрузки


Просмотров аннотации: 15

Опубликован

04.07.2018

Как цитировать

[1]
Соколов, Д.В., Давлеткильдеев, Н.А. и Лобов, И.А. 2018. Применение методов сканирующей зондовой микроскопии для определения электрофизических параметров индивидуальных многостенных углеродных нанотрубок. ОМСКИЙ НАУЧНЫЙ ВЕСТНИК. 3(159) (июл. 2018), 114–117. DOI:https://doi.org/10.25206/1813-8225-2018-159-114-117.

Выпуск

Раздел

Приборостроение, метрология и информационно-измерительные приборы и системы

Похожие статьи

Вы также можете начать расширеннвй поиск похожих статей для этой статьи.