Magnetic field strength gradiometer

Authors

  • Равиль Абдрахманович Ахмеджанов Omsk State Transport University, Omsk, Russia
  • Александр Иванович Чередов Omsk State Technical University, Omsk, Russia
  • Андрей Владимирович Щелканов Omsk State Technical University, Omsk, Russia https://orcid.org/0000-0002-1354-8708

DOI:

https://doi.org/10.25206/1813-8225-2021-178-75-79

Keywords:

strength gradient, sample, field, sensing element, range, sensitivity

Abstract

Measurements of magnetic field parameters are the basis of all magnetic measurements. Most methods of measuring magnetic field parameters are based on force (energy) interaction of magnetic field with macro- or microscopic currents and electromagnetic induction. The paper considers the possibility of constructing a magnetic field strength gradient meter based on the absolute helical instability of electron-hole plasma of a semiconductor sample. The functional scheme of the gradiometer and the results of experimental and theoretical studies of the sensitive element of the gradiometer are presented.

Downloads

Download data is not yet available.

Author Biographies

Равиль Абдрахманович Ахмеджанов, Omsk State Transport University, Omsk, Russia

кандидат технических наук, профессор (Россия), профессор кафедры «Вагоны и вагонное хозяйство» Омского государственного университета путей сообщения.

Александр Иванович Чередов, Omsk State Technical University, Omsk, Russia

кандидат технических наук, доцент (Россия), доцент кафедры «Радио-технические устройства и системы диагностики» Омского государственного технического университета (ОмГТУ).

Андрей Владимирович Щелканов, Omsk State Technical University, Omsk, Russia

старший преподаватель кафедры «Радиотехнические устройства и системы диагностики», ОмГТУ.

Downloads


Abstract views: 16

Published

2021-09-24

How to Cite

[1]
Ахмеджанов, Р.А., Чередов, А.И. and Щелканов, А.В. 2021. Magnetic field strength gradiometer. Omsk Scientific Bulletin. 4(178) (Sep. 2021), 75–79. DOI:https://doi.org/10.25206/1813-8225-2021-178-75-79.

Issue

Section

Instrument Engineering, Metrology and Information-Measuring Devices and Systems

Similar Articles

You may also start an advanced similarity search for this article.