Ким КК, Ткачук АА, Кузнецов АА. Стенды для измерения потерь и критических параметров сверхпроводящих образцов во внешних магнитных полях. ОНВ [Интернет]. 30 июнь 2020 г. [цитируется по 22 ноябрь 2024 г.];(3(171):70-3. доступно на: https://journals.omgtu.ru/index.php/onv/article/view/805