К. К. Ким, А. А. Ткачук, и А. А. Кузнецов, «Стенды для измерения потерь и критических параметров сверхпроводящих образцов во внешних магнитных полях», ОНВ, вып. 3(171), сс. 70–73, июн. 2020.