[1]
Д. В. Соколов, Н. А. Давлеткильдеев, и И. А. Лобов, «Применение методов сканирующей зондовой микроскопии для определения электрофизических параметров индивидуальных многостенных углеродных нанотрубок», ОНВ, вып. 3(159), сс. 114–117, июл. 2018.