Бурлаков, Р. Б. (2018) «Простой способ оценки толщины нанометровой прозрачной пленки SiO в процессе ее термовакуумного осаждения», ОМСКИЙ НАУЧНЫЙ ВЕСТНИК, (5(161), сс. 115–118. doi: 10.25206/1813-8225-2018-161-115-118.