КИМ, К. К.; ТКАЧУК, А. А.; КУЗНЕЦОВ, А. А. Стенды для измерения потерь и критических параметров сверхпроводящих образцов во внешних магнитных полях. ОМСКИЙ НАУЧНЫЙ ВЕСТНИК, [S. l.], n. 3(171), p. 70–73, 2020. DOI: 10.25206/1813-8225-2020-171-70-73. Disponível em: https://journals.omgtu.ru/index.php/onv/article/view/805. Acesso em: 26 ноя. 2024.