БУРЛАКОВ, Р. Б. Простой способ оценки толщины нанометровой прозрачной пленки SiO в процессе ее термовакуумного осаждения. ОМСКИЙ НАУЧНЫЙ ВЕСТНИК, [S. l.], n. 5(161), p. 115–118, 2018. DOI: 10.25206/1813-8225-2018-161-115-118. Disponível em: https://journals.omgtu.ru/index.php/onv/article/view/1020. Acesso em: 21 ноя. 2024.