Ким, К. К., Ткачук, А. А., & Кузнецов, А. А. (2020). Стенды для измерения потерь и критических параметров сверхпроводящих образцов во внешних магнитных полях. ОМСКИЙ НАУЧНЫЙ ВЕСТНИК, (3(171), 70–73. https://doi.org/10.25206/1813-8225-2020-171-70-73