Бурлаков, Р. Б. (2018). Простой способ оценки толщины нанометровой прозрачной пленки SiO в процессе ее термовакуумного осаждения. ОМСКИЙ НАУЧНЫЙ ВЕСТНИК, (5(161), 115–118. https://doi.org/10.25206/1813-8225-2018-161-115-118