Ким, К.К., Ткачук, А.А. и Кузнецов, А.А. 2020. Стенды для измерения потерь и критических параметров сверхпроводящих образцов во внешних магнитных полях. ОМСКИЙ НАУЧНЫЙ ВЕСТНИК. 3(171) (июн. 2020), 70–73. DOI:https://doi.org/10.25206/1813-8225-2020-171-70-73.