Бурлаков, Р.Б. 2018. Простой способ оценки толщины нанометровой прозрачной пленки SiO в процессе ее термовакуумного осаждения. ОМСКИЙ НАУЧНЫЙ ВЕСТНИК. 5(161) (ноя. 2018), 115–118. DOI:https://doi.org/10.25206/1813-8225-2018-161-115-118.